探针卡认证与测试工程师-Probe Card Certification and Testing Engineer(J19163)

探针卡设计验证与问题闭环： 主导量产探针卡的设计与验证，识别并定位产线探针卡量产过程中的重点失效问题，推动根因分析与整改闭环；

供应商导入与技术路径规划： 推动本土化探针卡供应商评估与导入，制定并迭代技术路线，提升供应链稳定性与工艺保障能力；

量产测试解决方案优化： 引入并验证先进测试方案，优化量产测试流程，提升测试效率与覆盖率。

专业技能与资格：具备DRAM测试原理与Memory产品测试方法的理论功底，能理解DDR/LPDDR各测试环节的判定意义；具备测试机台应用能力，能识别不同平台的差异并选用合适方案；能解读测试数据，提取有效信息以定位程式异常，并独立完成调试与验证；

行业与专业经验：具备存储器行业工作经验，理解DRAM等Memory产品的测试pattern原理与失效分析逻辑，具备测试程式调试及P/C验证实操经验。