研发良率指标管理工程师-TD Yield Index Management Engineer(J19157)

主导新产品良率损失分析分类，识别问题源头并提出验证方向；

协同Design、Device、PIE、PE团队推动优化调整方案；

追踪确认良率改善措施的成果，推动工艺整合（PI）固化高良率稳定路径，确保改善成果纳入标准流程；

协助IT搭建缺陷管理系统，推动良率及缺陷数据的自动化分析，提升异常排查与分析效率；

协助制定良率在线监控项目，系统性识别并减少良率波动概率，稳定良率表现。

教育背景与专业知识：硕士及以上学历，微电子、计算机、物理、电子工程等工学相关专业；

行业与专业经验：具有2年以上半导体制造经验，有良率工程（YE）、产品测试工程（PTE）、测试工程（Testing）、PDE或ATE测试相关经验者优先；

专业技能与资格：能使用数据分析工具完成良率损失分类与根因定位；

项目/任务成果：参与过至少1个良率改善或缺陷管理系统搭建项目，并取得可量化成果；

其他要求：具有较强的逻辑分析与问题解决能力，能跨部门协同推动改善闭环。