电性失效分析研发工程师 -Electrical Failure Analysis Development Engineer(J13205)

失效分析方案制定： 主导芯片及封装产品的电性失效分析，制定逻辑完善的失效分析方案，输出系统性分析报告；

测试方案优化与数据解析： 基于Advantest机台Memory测试功能，制定并优化测试方案，深入分析测试数据以定位故障模式；

静态与动态电性分析： 执行静态与动态电性失效分析，依据故障模式通过电性分析与验证精确定位可能的故障物理位置；

故障定位与关联建立： 通过电路布局追踪与分析，建立失效隔离位置与故障模式间的关联性，驱动设计制程改善；

跨部门协同与技术赋能： 与设计、制造、测试、品保等部门协同推动产品质量提升，并对内外部人员开展电性分析技术培训。

教育背景与专业知识：全日制本科及以上学历，微电子/半导体物理等理工科专业，具备半导体器件物理与集成电路基础；

专业技能与资格：能操作ADVANTEST、示波器等电性分析设备，能独立完成测试方案设计与数据解析，能读懂电路图及PCB版图者优先；

行业与专业经验：熟悉晶圆制造工艺或封装工艺，有集成电路产业电性失效分析或产品测试经验者优先，有芯片EFA和PFA经验者优先；

其他要求：具有结构化的分析解决问题能力，能跨团队协作推动失效分析项目闭环并及时输出技术报告。