存储array测试与失效分析工程师-Storage Array Test and Failure Analysis Engineer(J17245)

负责 DRAM失效分析，并提供针对性的测试方案；

熟悉ADVANTEST机台 Memory测试，制定和优化测试方案并分析测试数据；

从质量和成本角度,优化测试策略。

硕士及以上学历， 微电子 / 集成电路 / 理工类专业优先；

具备电路分析能力；

具备较好的半导体器件物理的基础；

具备C/C++或相关的程序基础；

具有良好的英语阅读能力，具有较强的学习和独立解决问题能力；

具有较好的工作主动性及抗压性，深入探究及团队合作精神。