ATE测试开发与分析工程师-ATE Test Develop Engineer(J19930)

项目测试方案评估： 负责新一代memory产品可测性评估 & 测试flow 搭建

测试程序开发与功能验证： 负责新产品&新工艺产品测试程序开发，完成电性功能、高速数字信号性能验证，评估测试覆盖率并驱动改善；

DFT方案设计评估与优化：与Designer协同对新产品DFT方案进行评估与优化，完成产品DFT功能验证及设计Issue分析闭环；

冗余修补算法： 存储芯片冗余（redundancy）修补分析程序开发，修补算法研发, 下一代存储芯片冗余设计方案评估，以及fuse 功能验证

测试效率优化：持续优化ATE测试程序效率，缩短测试时间，降低成本

测试硬件设计与验证：评估并验证芯片测试硬件最优方案，确保硬件设计满足测试需求

测试软件工程环境建设：ATE CP/FT软件工程环境建设，测试流程控制开发，测试过程及结果资料处理

教育背景与专业知识：微电子/集成电路/电子信息/通信/自动化/计算机及相关专业，本科及以上学历，具备数字逻辑电路与半导体测试基础理论；

专业技能与资格： 至少熟悉一种常用编程语言（如C/C++、Python等），具备良好的程式框架设计能力，熟悉芯片测试原理及DFT方案设计验证流程；

行业与专业经验： 具有1年以上半导体领域工作经验，有Advantest/Teradyne ATE设备使用经验者优先，了解DRAM/NAND/NOR存储器工作原理，有信号仿真与simulation经验者优先；具备电路，模数电，信号处理，信号完整性等基础硬件知识，有probe card, DIB 设计经验优先

项目/任务成果： 能独立完成ATE测试程序开发与调试，具备工程实验设计及数据分析能力，能从测试项原理出发驱动测试覆盖率优化与效率提升。