芯片测试AI首席架构师-Testing AI Chief Architect(J19288)

AI闭环架构设计：主导DRAM测试业务架构设计，构建从测试到失效分析再到工艺反馈的全链路AI闭环系统；

测试优化建模：运用AI技术优化测试流程，建立从Fail Bit Map到结构问题的映射模型，设计高维测试空间的采样优化策略；

自适应测试系统开发：设计自适应测试序列生成系统，通过多目标优化（覆盖度、测试时间、成本、良率）构建强化学习驱动的测试流程优化框架；

数据治理与知识体系构建：搭建大规模测试数据治理体系，构建跨批次、跨产品的数据统一抽象层，建立DRAM测试知识图谱，设计大语言模型辅助的失效分析系统；

团队与技术路线制定：搭建跨领域团队（测试、器件、电路、机器学习），制定测试智能化技术路线图，主导关键技术决策与系统落地。

教育背景与专业知识：硕士及以上学历，理工科相关专业背景；

行业与专业经验：具备10年以上DRAM设计或测试经验；

专业技能与资格：深刻理解DRAM阵列结构、Sense Amp工作机制、典型结构缺陷模式及失效分析流程；

专业技能与资格：熟悉Wafer Sort和Final Test流程，理解March算法、BIST及Repair机制；

专业技能与资格：熟悉redundancy和repair策略，具备fail bit统计分析经验及Margin fail分析经验；

专业技能与资格：具备高维黑盒优化经验，有强化学习或Bayesian Optimization实践经历。