研发良率指标管理工程师-TD Yield Index Management Engineer(J15271)

新产品良率电性测试分析, 根据测试诊断确认电性失效模型；

新产品功能验证,参数特性测试验证, 推动 Design, Device, PIE, PE 进行参数优化调整；

测试程式编写以及优化，新测试方案以及模式开发以辅助产品失效分析。

硕士学历以上， 工程学系背景 ，微电子，计算机、 物理、 电子工程专业等；

有半导体 Fab 经验， 两年以上YE / PTE / Testing / PDE /ATE测试相关经验尤佳。