Memory ATE 测试工程师

1. 负责存储器（DRAM/NAND/NOR/SRAM 等）芯片 ATE 测试开发，制定 CP/FT 测试方案，完成测试程序、向量调试与工程验证。

2. 参与 Loadboard、Probe Card、Socket 等测试硬件评估与调试，搭建稳定测试环境。

3. 负责 NPI 新产品导入，完成芯片特性表征、测试覆盖率验证、bin 划分，推动产品转量产。

4. 量产阶段负责程序维护、良率分析，解析 bit map、retention、读写干扰等存储类失效，定位失效根因，优化测试时间，降低测试成本。

5. 协同设计、工艺、FA、封测团队完成失效复现与问题闭环，编写测试相关技术文档，支撑产线技术支持。

1. 本科及以上，微电子、集成电路、半导体相关专业，2 年及以上 Memory 芯片 ATE 测试经验。

2. 熟悉存储器原理、存储失效模型，熟悉ATE平台，掌握测试程序开发调试。

3. 了解 CP/FT 测试流程，能够分析存储芯片 bit map 失效图谱，具备良率改善经验。

4. 具备良好跨部门沟通能力，能独立推进测试问题闭环。

5. 看懂芯片 spec 与时序图，熟悉 BIST 原理优先。