Nand介质分析工程师（27届校招）(J12042)

开发与优化NAND Flash自动化测试平台；

设计并实施电气特性与可靠性测试方案，覆盖ONFI/Toggle协议兼容性、数据保持、擦写耐久等关键指标；

分析测试数据，输出结构化测试报告及根因结论；

开展NAND Flash失效分析，定位工艺、设计或应用层面失效机理，提出测试级与系统级改进方案；

支持新产品NAND器件选型评估，提供介质特性匹配性分析；

协同固件团队开展eMMC/UFS/SSD存储子系统性能与可靠性联合优化。

具备阅读和理解英文技术文档的能力；

熟悉NAND Flash基本原理、ONFI/Toggle DDR接口协议及可靠性测试方法；

熟练使用C语言或Python进行测试脚本开发，具备良好编程习惯；

能熟练操作示波器等通用测试仪器开展信号完整性与功耗分析；

具备半导体存储器件测试或失效分析相关项目经验者优先。