DRAM产品量测分析主任工程师 DRAM Product Measurement and Analysis Staff Engineer(J21110)

SIPI测量分析： 主导DRAM产品SIPI测量与分析，输出测量报告并识别信号完整性风险；

协议时序测量分析： 主导DRAM协议时序测量与分析，提供准确测量数据和结论，支持产品时序验收；

系统失效分析： 主导DRAM产品各阶段系统失效的量测分析，快速定位根因，推动问题闭环；

新设备导入评估： 主导新测量设备的导入与学习，评估设备能力，制定操作规范并推广使用；

测量方法优化： 优化现有测试方法，开发新测试方案，提升测量效率和准确性，丰富测试手段。

教育背景与专业知识： 本科及以上学历，电子、计算机或通信等专业，具备DRAM知识并能解读DRAM datasheet，具备电路基础知识和信号完整性理论，理解计算机硬件架构及工作原理；

专业技能与资格： 能使用示波器和逻辑分析仪完成高速信号测量，能使用电烙铁和热风枪完成焊接任务；

行业与专业经验： 具备2年以上高速接口信号测量经验，具有至少一种系统平台（如手机、台式机、笔记本、服务器、消费电子或车载电子）的测试经验。